深圳市灣邊貿(mào)易優(yōu)勢供應(yīng)美國Sinton公司BCT-400少子壽命測量儀,歡迎來電咨詢!
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BCT-400測量系統(tǒng)不需要做表面鈍化就能直接測量單晶和多晶硅(錠或塊)的少子壽命.
因為少子壽命作為衡量生長和缺陷含量的的最敏感的技術(shù)參數(shù),這個工具直接獲得長硅的質(zhì)量參數(shù)。
Sinton BCT-400
是基于渦流傳感器和紅外光致光電導(dǎo)方法直接測量單晶或者多晶硅棒體少子壽命的設(shè)備,具有瞬態(tài)和準(zhǔn)穩(wěn)態(tài)兩種測量模式。該設(shè)備可探測3mm 深度范圍少子壽命,并能輸出不同載流子注入水平下的少子壽命值,可實現(xiàn)低電阻率硅單晶少子壽命測量,并能通過軟件端光強偏置實現(xiàn)單晶缺陷密度計算。