本測試系統(tǒng)用于鐵電體的鐵電性能測量，可用于鐵電體的研究，也可作為近代物理實驗中的固體物理實驗設(shè)備，同時可作為工業(yè)化生產(chǎn)鐵電存儲器的鐵電性能檢測設(shè)備。該鐵電性能測量系統(tǒng)不僅能畫出鐵電薄膜的電滯回線，還可以定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr、矯頑場Ec、漏電流等參數(shù)，還可以進行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測試。能夠較全面準確地測量鐵電薄膜的鐵電性能。該系統(tǒng)配鐵電高壓模塊和鐵電高壓驅(qū)動模塊，可測量陶瓷材料的鐵電性能。

儀器采用一體化設(shè)計，實現(xiàn)測試結(jié)果全數(shù)字化，操作簡單方便。本測試系統(tǒng)采用虛地模式測量電路，與傳統(tǒng)的Sawyer-Tower模式相比，此電路取消了外接電容，可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于儀器內(nèi)部的器件精度，比較容易定標和校準，并且能實現(xiàn)較高的測量準確度。

特 點：

1.電滯回線測量，可以畫出電滯回線及得到鐵電材料的飽和極化±Ps、 剩余極化±Pr、矯頑場±Ec、電容量C等參數(shù)。 

2.鐵電疲勞性能測量。 

3.鐵電保持性能測試。

4.電阻測量。 

5.漏電流測量。

6.高精度三維移動平臺。

7.耐高壓樣品池。

技術(shù)指標：

1.輸出信號電壓：薄膜：0～±10V 陶瓷材料：0～±2000V

2.輸出信號頻率：薄膜材料10Hz/20Hz/50Hz/ 100Hz/ 200Hz/ 500Hz/ 1000Hz/  陶瓷：1Hz

3.電流增益：薄膜：1,10,100  陶瓷：0.01,0.05,0.1,0.5

4.積分電容：1000nf，10nf

可做漏電流測量，飽和極化、剩余極化、矯頑電壓測量，可進行疲勞測試和保持測試，操作簡便。