Hot Disk方法的優(yōu)點(diǎn)：

1. 直接測(cè)量瞬態(tài)熱傳播，測(cè)試時(shí)間在分秒之間，可以節(jié)約大量的時(shí)間。
2. 不會(huì)和靜態(tài)法一樣受到接觸熱阻的影響。
3. 無(wú)須特別的樣品制備，只需相對(duì)平整的樣品表面。
4. 可用于固體、粉末、涂層、薄膜、液體、各向異性材料等熱物性參數(shù)的測(cè)定。

1，可測(cè)粉末，塊狀，液體，薄膜等樣品；低導(dǎo)材料建議長(zhǎng)寬大于20*20mm，厚度大于3mm，若厚度小于3mm可多提供幾塊；金屬等高導(dǎo)材料尺寸大于50*50*20mm；粉末和液體樣品建議提供10-25ml；紙、織物和布等絕緣低導(dǎo)材料建議提供4-6片，尺寸大于30mm*30mm*（10μm~2mm）；
2，導(dǎo)熱系數(shù)值是hotdisk儀器直接測(cè)試得出的，結(jié)果中提供的體積比熱僅供參考，如需各向異性測(cè)試，請(qǐng)單獨(dú)預(yù)約選擇各向異性；
3，每次測(cè)試需要2塊大小相同，至少一面平整的樣品，能夠夾住導(dǎo)熱探頭即可；
4，每個(gè)樣品只測(cè)一次，如果需要平行測(cè)試，請(qǐng)聯(lián)系項(xiàng)目經(jīng)理

參照國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ISO 22007-2測(cè)得樣品導(dǎo)熱系數(shù)；同一個(gè)樣品僅可選擇一種狀態(tài)，如樣品為不同狀態(tài)，需新增一組樣品測(cè)試預(yù)約�。�！

1. 探頭和樣品尺寸如何選擇？

擴(kuò)散系數(shù)越大，探頭越大。探頭選定后需要：樣品厚度 > 探頭半徑、樣品直徑 > 兩倍探頭直徑，樣品尺寸盡量大。