系統(tǒng)概述
交流阻斷（或反偏）耐久性試驗(yàn)是在一定溫度下，對(duì)半導(dǎo)體器件施加阻斷（或反偏）電壓，按照規(guī)定的時(shí)間，從而對(duì)器件進(jìn)行質(zhì)量檢驗(yàn)和耐久性評(píng)估的一種主要試驗(yàn)方法。
一般情況下，此項(xiàng)試驗(yàn)是對(duì)器件在結(jié)溫（Tjm ℃）和規(guī)定的 交流阻斷電壓或反向偏置電壓的兩應(yīng)力組合下，進(jìn)行規(guī)定時(shí)間的 試驗(yàn)，并根據(jù)抽樣理論和失效判定依據(jù)，確認(rèn)是否通過， 同時(shí)獲取相關(guān)試驗(yàn)數(shù)據(jù)。
該系統(tǒng)符合MIL-STD-750D METHOD-1038.3、GJB128、 JEDEC標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)要求�？晒┌雽�(dǎo)體器件配以適當(dāng)?shù)臏囟瓤煽匮b置， 作交流阻斷（或反偏）耐久性/ 篩選試驗(yàn)。能滿足IGBT進(jìn)行高溫反偏耐久性試驗(yàn)、高溫漏電流測(cè)試（HTIR）和老煉篩選。
