QNix4200涂層測(cè)厚儀為磁性測(cè)厚儀，可以用來測(cè)量磁性基體上的涂鍍層；QNix4200涂層測(cè)厚儀為科瑞郎產(chǎn)品，其價(jià)格低，測(cè)量范圍廣，精度高。
QNix4200涂層測(cè)厚儀-優(yōu)點(diǎn)：
• 只需調(diào)零，無需校準(zhǔn)
• 體積小巧，操作方便
• 一機(jī)雙用，自動(dòng)識(shí)別基體
• 精度高
• 價(jià)格便宜
技術(shù)參數(shù)
QNix4200涂層測(cè)厚儀-技術(shù)參數(shù)：
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QNix4200 |
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磁性基體(Fe模式) |
有 |
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測(cè)量范圍 |
QN4200：Fe:0-3000um
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顯示精度 |
0.1um |
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精度 |
0-50um:≤±1um |
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50-1000um:≤±1.5%讀數(shù) |
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1000-3000um≤±3%讀數(shù) |
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最小接觸面 |
10×10mm |
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最小曲率半徑 |
凸面：3mm；凹面：25mm |
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最小基體厚度 |
Fe:0.2mm |
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溫度補(bǔ)償范圍 |
0-60℃ |
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顯示 |
LCD液晶(帶背光) |
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探頭 |
紅寶石固定式 |
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電源 |
2×1.5V干電池 |
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尺寸 |
100×60×27mm |
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重量 |
110g |
QNix4200涂層測(cè)厚儀-標(biāo)準(zhǔn)配置：
主機(jī)、2節(jié)5號(hào)電池、鐵基板、說明書
