TSP-Link 允許在主/從配置中連接多個(gè) 2600 系列儀器，從而實(shí)現(xiàn)無限的可擴(kuò)展性

板載測試腳本處理器處理和運(yùn)行來自儀器的復(fù)雜序列 - 為您提供高達(dá) 10 倍的吞吐量

允許為壓敏電阻、二極管和 BJT/FET 等組件創(chuàng)建自定義測量功能，或基于算法的測試，如具有功率一致性、線性度和閂鎖測試序列以及熱響應(yīng)測試的 IV 掃描。

在 16MB 的非易失性存儲(chǔ)器中存儲(chǔ)多達(dá) 50,000 行 TSP 代碼和超過 200,000 個(gè)讀數(shù)。

在每個(gè)通道上以 >10,000 個(gè)讀數(shù)/秒同時(shí)測量 I 和 V。只需 200µs 即可在任何通道上執(zhí)行完整的源測量周期 使用高速自動(dòng)量程功能確�？芍貜�(fù)計(jì)時(shí)和高吞吐量。

GPIB、RS-232 和 14 位數(shù)字 I/O 接口端口是標(biāo)準(zhǔn)配置

電流測量范圍（每通道） 1pA 至 3A

電流源范圍（每通道）5pA 至 3A

基本電流編程精度 0.03%

基本電流測量精度 0.02%

電壓測量范圍（每通道） 1µV 至 40V

電壓源范圍（每通道）5µV 至 40V

基本電壓編程精度 0.02%