電鏡型號：Strata 400/Helios NanoLab 400/400S/450S/600i。

1、FEI Helios400/450：以其超高分辨率和出色的成像能力著稱。無論是納米級別的材料結(jié)構(gòu)分析，還是微觀形貌的精細(xì)表征，都能提供清晰、準(zhǔn)確且極具細(xì)節(jié)的圖像信息。在半導(dǎo)體芯片研發(fā)、材料科學(xué)研究等領(lǐng)域，它能夠助力科研人員深入探究微觀世界的奧秘，為技術(shù)創(chuàng)新提供有力的數(shù)據(jù)支持。

2、FEI Strata400：具備穩(wěn)定可靠的性能表現(xiàn)。在對各類樣品進行檢測時，可高效地獲取微觀結(jié)構(gòu)信息，其精準(zhǔn)的分析功能對于地質(zhì)研究中礦物的微觀特征分析、生物醫(yī)學(xué)領(lǐng)域細(xì)胞組織的微觀結(jié)構(gòu)研究等有著重要意義，能夠幫助專業(yè)人員快速定位關(guān)鍵信息，推動相關(guān)領(lǐng)域研究的進展。

3、Quanta600F：擁有強大的適應(yīng)性和多功能性。可以對不同形態(tài)、不同材質(zhì)的樣品進行掃描分析，無論是金屬、陶瓷、聚合物等固體材料，還是液體、粉末等特殊樣品，都能輕松應(yīng)對，為材料工程、化學(xué)化工等多行業(yè)的質(zhì)量控制、新產(chǎn)品研發(fā)等環(huán)節(jié)提供全面且深入的微觀檢測服務(wù)。

4、FEI FIB200：專注于聚焦離子束技術(shù)應(yīng)用。在微納加工、樣品制備等方面展現(xiàn)出獨特的優(yōu)勢。通過精確的離子束刻蝕與沉積功能，能夠在微觀尺度上對樣品進行精細(xì)加工與改性，為納米制造、電子器件研發(fā)等前沿領(lǐng)域提供了不可或缺的技術(shù)手段，助力科研人員突破微觀工藝的瓶頸。