Mentor Graphics PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)
隨著IGBT等電力電子器件的功率不斷增大，應(yīng)用的范圍也隨之變得越來越廣，從電機驅(qū)動、光伏逆變器，到鐵路牽引、電動/混合動力汽車無不涉獵。但是電力電子器件不僅要工作在正常狀態(tài)下，有時候也需要工作在極端情況下，電子電子器件的工作性能會直接影響到整個系統(tǒng)的工作性能，因此IGBT等電力電子器件的功率循環(huán)及熱測試在整個研發(fā)、生產(chǎn)過程中尤為重要。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)基于MicReD T3Ster瞬態(tài)熱測試技術(shù)進行工業(yè)化開發(fā)和應(yīng)用，提供全自動的功率循環(huán)測試，針對MOSFET、IGBT和通用的兩極功率器件可以進行三個樣品同時測試，每個樣品電流可達500A，對于單個電力電子器件進行功率循環(huán)測試時，電流可達1500A。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)支持自動功率循環(huán)及熱測試，利用實測的數(shù)據(jù)對老化過程中器件出現(xiàn)的缺陷進行實時檢測。PT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)首次同時集成了自動功率循環(huán)、熱測試以及結(jié)構(gòu)函數(shù)分析功能，客戶只需要一個平臺就能夠?qū)ζ骷M行熱測試及可靠性，無需再像以往一樣先進行功率循環(huán)老化，再轉(zhuǎn)移到其他設(shè)備進行診斷。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)能夠在功率循環(huán)過程中實時監(jiān)控電流（包括柵極電流）、電壓以及結(jié)溫等參數(shù)，同時利用結(jié)構(gòu)函數(shù)分析循環(huán)過程中封裝結(jié)構(gòu)的改變和缺陷等。PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)可以用于幫助客戶加強以及加速封裝結(jié)構(gòu)研發(fā)、可靠性測試以及可靠性篩選的批量測試。
PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)在進行功率循環(huán)的同時，可以實時提供結(jié)構(gòu)函數(shù)的分析結(jié)構(gòu)以顯示正在發(fā)展的缺陷，循環(huán)數(shù)以及失效的原因，這樣可以省去循環(huán)結(jié)束后的實驗室檢測。PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)可以對多樣品長時間進行功率循環(huán)測試，告別傳統(tǒng)的先確定器件衰減發(fā)生的時間范圍，再在該時間范圍內(nèi)進行一系列的熱測試以確保獲得衰減數(shù)據(jù)。（與傳統(tǒng)的功率循環(huán)設(shè)備相比，PT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)可以確保不錯過任何一個器件衰減的時間點。）
利用PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)，用戶可以設(shè)計更加可靠的電子封裝產(chǎn)品，并為其用戶提供精確的可靠性數(shù)據(jù)。PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)提供的測試及特性化數(shù)據(jù)，可以與熱仿真軟件FloTHERM和FloEFD結(jié)合使用，以調(diào)整和驗證其熱學(xué)模型。
Mentor Graphics PWT1500A功率循環(huán)與熱測試系統(tǒng)主要特點
先進的測試?yán)砟睿和粋�測試平臺可以同時進行功率循環(huán)和熱測試，任何與老化降級相關(guān)的熱效應(yīng)都可以在不移動待測器件的情況下通過結(jié)構(gòu)函數(shù)在線監(jiān)測，與傳統(tǒng)的老練設(shè)備相比更加節(jié)省時間，能獲得完整的實效數(shù)據(jù)。
先進的測試技術(shù)：熱測試設(shè)備T3Ster的熱瞬態(tài)測試技術(shù)及結(jié)構(gòu)函數(shù)分析方法。
測試范圍廣：測試包括功率MOSFET，功率IGBT以及功率二極管等電力電子設(shè)備。
簡單易用的觸摸屏界面：功率循環(huán)測試期間能夠記錄包括電流、電壓、結(jié)溫、結(jié)構(gòu)函數(shù)以及結(jié)構(gòu)改變等信息在內(nèi)的參數(shù)。
多種功率循環(huán)模式：測試平臺包含了恒定時間Ton和Toff，恒定殼溫的變化ΔTC，恒定結(jié)溫的變化ΔTJ以及恒定功率P等模式。
實時結(jié)構(gòu)函數(shù)診斷：方便用戶快速地獲得循環(huán)過程中的缺陷，對應(yīng)的循環(huán)數(shù)以及失效原因等。
無需功率循環(huán)后的實驗室檢測及破壞性失效分析：無需再使用傳統(tǒng)的x射線、超聲波或者其他的破壞性方法來進行失效分析。
測試操作簡便：用戶只需根據(jù)提示將器件對應(yīng)管腳連接到設(shè)備。
