ITC55100 ITC75100晶體管圖示儀
ITC55100C 型號(hào)是一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測(cè)試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個(gè)非常強(qiáng)大的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比前代型號(hào)快20倍。其對(duì)峰值和零電流的響應(yīng)時(shí)間提高了十倍。結(jié)合這一功能，可提高充電和雪崩時(shí)間以及報(bào)告的峰值排水電流的準(zhǔn)確性。
ITC55100C 型號(hào)具有雙極柵驅(qū)動(dòng)器作為標(biāo)準(zhǔn)功能。用戶(hù)可以設(shè)置高達(dá) 30V 的總柵極驅(qū)動(dòng)器，并可以選擇 30V 中有多少為正，有多少是負(fù)的。此功能可確保某些設(shè)備在雪崩期間保持狀態(tài)。
ITC55100C 執(zhí)行符合 MIL-STD-750E 方法 3470 的多種類(lèi)型的測(cè)試。方法 3470 通過(guò)強(qiáng)調(diào) P 通道和 N 通道 MOSFET 和 IGBT 到受控能量水平來(lái)測(cè)試它們的能力。這是通過(guò)驅(qū)動(dòng)未夾緊的電感負(fù)載的設(shè)備實(shí)現(xiàn)的。
•單/雙設(shè)備測(cè)試
• N 通道，P 通道，混合
• 所有固態(tài)開(kāi)關(guān) • 無(wú)繼電器
• 40ns 的時(shí)序分辨率
• 電流范圍：0.1A 至 200A，0.1A 步長(zhǎng)
• 阿瓦蘭奇電壓至 2500V
• 雙極柵驅(qū)動(dòng)，帶 30V 回轉(zhuǎn)
• 新的高效開(kāi)爾文電路
• 傳統(tǒng)的 UIL 模式（通過(guò) GPIB）
• 觸摸屏程序輸入/控制
• 波形捕獲/顯示
• 內(nèi)部測(cè)試程序存儲(chǔ)（20 個(gè)文件）
• 高速電感充電，縮短測(cè)試時(shí)間
• 可編程泄漏測(cè)試電壓
• 阿瓦蘭切前/后泄漏測(cè)試
• 阿瓦蘭奇坍塌測(cè)試
• 多功能測(cè)試處理程序控制
• 多達(dá) 15 個(gè)硬件排序箱
• 提高電壓/電流精度
• 通過(guò)閃存進(jìn)行軟件更新
• 參數(shù)輸入的密碼控制
• 使用所有 ITC 電感負(fù)載箱運(yùn)行
• 與 ITC55MUX4 和 ITC55-RSF 的接口
• 簡(jiǎn)單、完整的用戶(hù)校準(zhǔn)
• 內(nèi)置自檢
ITC75100 是一種增強(qiáng)的未夾式電感負(fù)載 （UIL） 測(cè)試系統(tǒng)，它基于 ITC 行業(yè)領(lǐng)先的 ITC55 系列測(cè)試儀的成功，增加了額外的測(cè)試和測(cè)量能力。
ITC75100 對(duì)功率 MOSFET、IGBT 和二極管進(jìn)行堅(jiān)固性測(cè)試，這些測(cè)試符合 MIL-STD-750 方法 3470，通過(guò)強(qiáng)調(diào)它們達(dá)到受控的能量水平，由驅(qū)動(dòng)未夾緊電感負(fù)載的設(shè)備完成。改進(jìn)的測(cè)試規(guī)范允許完全控制測(cè)試參數(shù)。
特征
• 平板電腦用戶(hù)界面，具有大顯示屏和增強(qiáng)的數(shù)據(jù)處理能力
• 低電流和快速電流波形功能
• 用于 DUT 和接口保護(hù)的內(nèi)部并行能量路徑
• 使用本地柵極驅(qū)動(dòng)器測(cè)量 POD
• 帶 30V 總回轉(zhuǎn)的主動(dòng)?xùn)艠O驅(qū)動(dòng)
• 在測(cè)試前或測(cè)試后的指定延遲時(shí)間（高達(dá) 250μSec）之前，使用可編程電流源精確測(cè)量 Rdson 在指定電流級(jí)別下使用 Vf 雜物
• 單/雙（需要兩個(gè) POD）設(shè)備測(cè)試
• 波形捕獲/顯示
• 測(cè)試處理程序控制和裝箱
• 內(nèi)置自檢
• 對(duì)所有測(cè)試儀測(cè)量的簡(jiǎn)單用戶(hù)校準(zhǔn)
