HCT-BERT/C E1數(shù)據(jù)誤碼測(cè)試儀
HCT-BERT/C是一款真彩屏、圖形化、全中文操作界面的手持式E1/數(shù)據(jù)誤碼測(cè)試儀表。用于E1/G.703線路的現(xiàn)場(chǎng)維護(hù)和分析，以及數(shù)據(jù)線路(V.35,V.24/RS232,RS449,RS530,X.21)的誤碼測(cè)試。HCT-BERT/C功能全面,操作方便,既可按照G.821,G.826,M.2100等國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)試結(jié)果的分析、顯示,還可根據(jù)用戶的要求對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行存儲(chǔ)、統(tǒng)計(jì)、分析，是線路質(zhì)量測(cè)量的理想工具。
HCT-BERT2M誤碼測(cè)試儀功能特點(diǎn)
真彩屏、圖形化、全中文操作界面
多種類型E1差錯(cuò)分析，包括E1幀、圖案、CRC、和BPV分析
誤碼性能分析(G.821,G.826，M.2100)
E1信號(hào)頻偏測(cè)試
可對(duì)E1線路的各個(gè)時(shí)隙進(jìn)行設(shè)定(FAS,CAS)
可對(duì)E1信道中的時(shí)隙進(jìn)行抽取和插入(N×64K數(shù)據(jù))
對(duì)信令的ABCD比特進(jìn)行設(shè)定，顯示
對(duì)0時(shí)隙的Sa比特進(jìn)行設(shè)定，顯示
數(shù)據(jù)端口的誤碼測(cè)試(接口形式：V.35，V.24/RS232,RS449,RS530,X.21)
離線分析BERT性能
可存儲(chǔ)100個(gè)配置和測(cè)試結(jié)果文件，由用戶存儲(chǔ)或調(diào)出。
PC終端本地或遠(yuǎn)程控制
直方圖直觀顯示
多種測(cè)試結(jié)果輸出方式：內(nèi)部存儲(chǔ)結(jié)果、液晶屏顯示、并行口打印
內(nèi)置大容量充電電池，便于現(xiàn)場(chǎng)攜帶使用。
HCT-BERT2M誤碼測(cè)試儀接口形式
E1接口：RJ45(平衡)、BNC（非平衡）
數(shù)據(jù)接口： DB26(母)
時(shí)鐘接口： PCM
打印口：DB15 (母)
控制口：USB
HCT-BERT2M誤碼測(cè)試儀基本應(yīng)用
E1線路誤碼測(cè)試
成幀與非成幀的端到端測(cè)試
成幀監(jiān)測(cè)
分時(shí)隙的抽取和插入
數(shù)據(jù)線路誤碼測(cè)試
DTE/DCE n ×64k 同步測(cè)試
常用BERT測(cè)試
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BERT 碼型 |
48575，QRSS等多種碼型及用戶編程 |
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BERT 顯示格式 |
ITU G.821, ITU G.826, ITU-M.2100 |
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BERT 發(fā)送差錯(cuò)率 |
強(qiáng)加單一差錯(cuò)，強(qiáng)加0.001 到0. 差錯(cuò)率 |
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性能分析 |
Logic, Frame, CRC, BPV, E-bit 差錯(cuò)，接收計(jì)數(shù)，誤碼秒，無(wú)誤碼秒，誤碼率 |
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E1分析方式 |
信道圖示，Sa比特，信令A(yù)BCD比特等 |
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E1口 |
收發(fā)速率 |
2048K bit/s ± 3ppm. @25oC |
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線路編碼 |
HDB3 |
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脈沖特性 |
符合ITU-T G.703 |
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時(shí)鐘設(shè)定 |
內(nèi)時(shí)鐘，外時(shí)鐘，恢復(fù)時(shí)鐘，數(shù)據(jù)口時(shí)鐘 |
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幀結(jié)構(gòu) |
不成幀，成幀；FAS,FAS+CAS; 帶 CRC,不帶 CRC。 |
G.703 E1口 BERT測(cè)試：
HCT-BERT2M誤碼測(cè)試儀數(shù)據(jù)端口誤碼測(cè)試：
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DTE或DCE同步誤碼測(cè)試 |
DTE 或 DCE 低速同步/異步誤碼測(cè)試 |
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接口 |
V.35，V.24/RS232,RS449,RS530,X.21 |
V.24/RS232,V.35，RS449,RS530,X.21 |
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速率 |
N X 64K (64K…2048K) |
異步：50 – 115.2K bps； |
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BERT碼型 |
63, 127, 511, 2047, 32767 ITU 標(biāo)準(zhǔn)等 |
63, 511, 2047, FOX, SPACE, MARK, and AL |
