HY(SL)根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試。卡被放到機(jī)器中，測(cè)試輪將循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N。經(jīng)過測(cè)試，檢查芯片情況，芯片應(yīng)該是完好無損且功能正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試。

電源：110-22V 50-60HZ

 測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考：Mcd

 CQM測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)參考:P-22

 測(cè)試方法參考：10.3.22

 CQM 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2