晶振頻率測試儀GDS-80

發(fā)布時間：2025-03-21 00:00:00,加入時間:2019年03月14日(距今2318天)
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_{晶體阻抗計(jì)}

晶體阻抗計(jì)（晶振測試儀）是一種專業(yè)的晶振測試設(shè)備，主要測試無源晶振相應(yīng)的電參數(shù)。采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負(fù)載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負(fù)載諧振電阻RL、負(fù)載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能，負(fù)載電容在1-100P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負(fù)載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運(yùn)算克服了市場上晶振測試設(shè)備使用實(shí)體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點(diǎn)、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。

發(fā)展歷史

晶振測試主要方法主要經(jīng)歷了早期的晶體阻抗計(jì)，到目前主流的網(wǎng)絡(luò)分析儀方案。早期的晶體阻抗計(jì)檢定依據(jù)為JJG(電子) 05053-1995 晶體阻抗計(jì)檢定規(guī)程，代表產(chǎn)品有安捷倫HP4915A/4916A，S&A 150等；經(jīng)歷了約20年的發(fā)展，2023年國際公認(rèn)的測試方法為網(wǎng)絡(luò)分析儀測試方案，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)為GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量第11部分：采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負(fù)載諧振頻率和有效負(fù)載電容的標(biāo)準(zhǔn)方法》，典型產(chǎn)品有智慧源的GDS-80系列等。

工作原理

播報

晶振測試儀GDS-80系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負(fù)載諧振頻率和負(fù)載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fs、負(fù)載諧振頻率FL、串聯(lián)諧振電阻Rs、負(fù)載諧振電阻RL、負(fù)載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能。