Agilent 4286A 射頻LCR測試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對電子元件進(jìn)行測試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。
與反射測量技術(shù)不同，采用直流電 壓測量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測量。 生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠HP4286A 適于在射頻范圍對電子元器件進(jìn)行測試。
4286A的測量非�？臁４送�，在小測 試電流(100μA)處優(yōu)良的測試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^程 非常短。
系統(tǒng)組建簡單測試頭電纜(1m或利用延伸電纜時為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測件接點(diǎn)附近 ，而不會使誤差有任何增大。
增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉室適用于多頻或 陣列芯片測試。
