Agilent 4286A 射頻LCR測(cè)試儀在1MHz～3GHz頻率范圍可以提供精確、可靠和快速測(cè)量，以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。
與反射測(cè)量技術(shù)不同，采用直流電 壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行精確測(cè)量。 生產(chǎn)率高，質(zhì)量可靠HP4286A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。
4286A的測(cè)量非�？臁４送�，在小測(cè) 試電流(100μA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率，因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程 非常短。
系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近 ，而不會(huì)使誤差有任何增大。
增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或 陣列芯片測(cè)試。
