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Introspect Tx/Rx LVDS測試方案

  • 發(fā)布時間:2024-02-29 09:15:26,加入時間:2024年02月28日(距今506天)
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高速多通道信號發(fā)生器在LVDS to T-CON(時序控制器)及中大尺寸顯示屏驅(qū)動芯片的測試解決方案_Introspect Tx/Rx LVDS測試解決方案(支持共模電壓調(diào)整,+-4.5% Modulation rate

如下是關(guān)于Introspect T-CON及LVDS測試解決方案的產(chǎn)品資料及主要功能介紹,目前Introspect的產(chǎn)品已經(jīng)廣泛應(yīng)用在很多DDIC及芯片的廠商用于T-CON多通道等產(chǎn)品測試驗證上。

Introspect SV1C/SV3C系列產(chǎn)品五大亮點:

1.每個通道具備獨立注入抖動能力

2.每個通道具備調(diào)整Skew能力

3.可調(diào)整共模電壓幅值(VCOM)

4.可編程客制化碼型

5.可完全取代泰克DTG 5334,并具體積小,備極佳的價格優(yōu)勢

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