高速多通道信號(hào)發(fā)生器在LVDS to T-CON(時(shí)序控制器)及中大尺寸顯示屏驅(qū)動(dòng)芯片的測(cè)試解決方案_Introspect Tx/Rx LVDS測(cè)試解決方案（支持共模電壓調(diào)整，+-4.5% Modulation rate）

如下是關(guān)于Introspect T-CON及LVDS測(cè)試解決方案的產(chǎn)品資料及主要功能介紹，目前Introspect的產(chǎn)品已經(jīng)廣泛應(yīng)用在很多DDIC及芯片的廠商用于T-CON多通道等產(chǎn)品測(cè)試驗(yàn)證上。

Introspect SV1C/SV3C系列產(chǎn)品五大亮點(diǎn):

1.每個(gè)通道具備獨(dú)立注入抖動(dòng)能力

2.每個(gè)通道具備調(diào)整Skew能力

3.可調(diào)整共模電壓幅值(VCOM)

4.可編程客制化碼型

5.可完全取代泰克DTG 5334,并具體積小,備極佳的價(jià)格優(yōu)勢(shì)

Introspect LVDS PG的主要優(yōu)勢(shì):

1. 可以透過PG直接發(fā)圖片

2. 支持及滿足共模電壓測(cè)試要求

3. ±4.5% SSC功能的支持

其他優(yōu)勢(shì)類似于CDPHY PG和BERT的功能