高速多通道的誤碼測(cè)試儀（BERT）

DDR5/DRAM/DDR5 RCD/DDR5 DB/CPU DDR5物理層高速多通道Tx/Rx信號(hào)質(zhì)量測(cè)試測(cè)試儀及協(xié)議功能性驗(yàn)證測(cè)試解決方案

針對(duì)LPDDR5/DDR5提供了高速多通道的誤碼測(cè)試儀（BERT）, 適合用在DDR5 DRAM/RCD/DB等物理層接收機(jī)信號(hào)質(zhì)量完整性測(cè)試及針對(duì)DDR5協(xié)議層之功能性驗(yàn)證. 目前該產(chǎn)品有廣泛的應(yīng)用在各大DDR5相關(guān)的廠商中，

完整的支持DDR5 DRAM Test Suite，DDR5 R-DIMM Test Suite， DDR5 RCD Test Suite，DDR5 DB Test Suite，LPDDR5 DRAM Test Suite等等。