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M5512 GDDR7內(nèi)存測試系統(tǒng)

  • 發(fā)布時(shí)間：2024-05-16 09:37:18,加入時(shí)間:2024年02月28日(距今557天)
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M5512 GDDR7 Memory Test System

ATE-on-Bench for GDDR7 Characterization and Test

BENEFITS

Fastest time to market: perform deep memory read/write operations and characterize electrical and timing specifications

Most capable PAM3 signaling: leveraging years of expertise in SerDes technology, the PAM3 pin-electronics exceed the requirements of the GDDR7 specifications

Automated: scripting capability ideal for debug tasks, verification, and full‐fledged production screening of devices and system boards

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