一、產(chǎn)品概述

導(dǎo)波雷達(dá)物位計(jì)是一款采用時(shí)域反射（TDR）測量原理的接觸式物位測量儀表�？蓮V泛應(yīng)用于測量液體、漿料及糊狀物等的距離、物位、體積、重量，也可用于測量粉末、顆粒等固體介質(zhì)。因其采用了更高的動(dòng)態(tài)信號(hào)和更窄的脈沖，所以和傳統(tǒng)的雷達(dá)物位計(jì)相比，該系列儀表的精度和重復(fù)性更佳。

二、測量原理

低強(qiáng)度電磁脈沖以納秒級(jí)寬度被發(fā)射并沿著剛性或柔性的導(dǎo)體以光速行進(jìn)，當(dāng)脈沖接觸到介質(zhì)表面時(shí)被反射。反射信號(hào)被儀表接收，發(fā)射脈沖與接收脈沖的時(shí)間間隔與基準(zhǔn)面到被測介質(zhì)表面的距離成正比。通過測量發(fā)射與接收的時(shí)間間隔，來實(shí)現(xiàn)基準(zhǔn)面至被測介質(zhì)表面距離的測量。

時(shí)間 1：產(chǎn)生初始脈沖

時(shí)間 2：沿導(dǎo)體向下行進(jìn)，速度 C（光速）

時(shí)間 3：脈沖遇到被測介質(zhì)表面發(fā)生反射

④時(shí)間 4：反射脈沖被接收，并被處理器記錄

脈沖信號(hào)從被發(fā)射到被接收之間的時(shí)間差 T，與基準(zhǔn)面到介質(zhì)表面的距離 D 成正比：D=C×T/2

測量的基準(zhǔn)面是： 螺紋底面或法蘭的密封面

A:量程 B:低位 C:滿位 D:盲區(qū) 圖1 測量原理示意圖

運(yùn)行時(shí)，保證料位不能進(jìn)入測量盲區(qū)D

三、技術(shù)優(yōu)勢(shì)

• 更高的動(dòng)態(tài)信號(hào)和更窄的脈沖帶來更高精度與重復(fù)性

• 低介電常數(shù)介質(zhì)的選擇

• 能量集中，具有更強(qiáng)抗干擾能力，大大提高了可靠性

• 測量盲區(qū)更小，對(duì)于小罐測量也會(huì)取得優(yōu)異效果

• 測量靈敏、刷新速度快、安裝簡便、牢固耐用、免維護(hù)

• 幾乎不受溫度、壓力、水蒸汽、泡沫、粉塵等復(fù)雜工況的影響

• 采用兩線制回路供電的技術(shù)，供電電壓和輸出信號(hào)通過一根兩芯電纜傳輸，節(jié)省成本

• 采用先進(jìn)微處理器和獨(dú)特回波處理技術(shù)，可適用于各種復(fù)雜工況

• 發(fā)射功率極低，可安裝于各種金屬、非金屬容器內(nèi)，對(duì)人體環(huán)境均無傷害

• 帶有按鍵的顯示屏可方便設(shè)置儀表的參數(shù)

• 更小的體積，減少安裝難度