優(yōu)爾鴻信檢測(cè) 粗糙度檢測(cè) 表面粗糙度測(cè)試 CNAS資質(zhì)

表面粗糙度是產(chǎn)品質(zhì)量重要指標(biāo)之一，其對(duì)產(chǎn)品的外觀質(zhì)量、零件間的配合以及產(chǎn)品的使用壽命有很大的影響。表面粗糙度，是指加工表面具有的較小的間距和微小峰谷不平度。測(cè)量粗糙度的方法常用的有：比較法、光切法、干涉法、針描法和印模等。

表面粗糙度測(cè)試方法： 接觸式、非接觸式

常用測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 10610、ASME B46

非接觸式粗糙度測(cè)試案例

一、測(cè)試背景

客戶想知道這個(gè)產(chǎn)品的粗糙度值如何，因這個(gè)產(chǎn)品比較特殊，是一個(gè)個(gè)顆粒，這里我們選用白光干涉法進(jìn)行測(cè)試

二、測(cè)試方案：
這里我們選用白光干涉法進(jìn)行測(cè)試。設(shè)備型號(hào)為profilm3D，它是以白光干涉技術(shù)為原理（使用垂直干涉掃描（WLI）與高精度的相位干涉（PSI） ）結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析，并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)，從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量的光學(xué)檢測(cè)儀器 

三、測(cè)試過(guò)程：
將產(chǎn)品放置在測(cè)試平臺(tái)上，根據(jù)測(cè)試界面調(diào)試工作平臺(tái)調(diào)整平，利用軟件可以看到測(cè)試界面鏡頭下產(chǎn)品的樣子以及測(cè)試出來(lái)的效果。如下圖 ，可根據(jù)客戶要求對(duì)測(cè)試效果圖進(jìn)行分析，得到客戶想要的測(cè)試參數(shù)。

四、測(cè)試結(jié)論：
已將測(cè)試結(jié)果反饋給客戶 。