Power Tester 1800A功率循環(huán)測(cè)試儀
Power Tester功率循環(huán)及熱測(cè)試平臺(tái)
一、產(chǎn)品概述
先進(jìn)的測(cè)試?yán)砟睿和粋�(gè)測(cè)試平臺(tái)可以同時(shí)進(jìn)行功率循環(huán)和熱測(cè)試，任何與老化降級(jí)相關(guān)的熱效應(yīng)都可以在不移動(dòng)待測(cè)器件的情況下通過(guò)結(jié)構(gòu)函數(shù)在線監(jiān)測(cè)，與傳統(tǒng)的老練設(shè)備相比更加節(jié)省時(shí)間，能獲得完整的失效數(shù)據(jù)。
先進(jìn)的測(cè)試技術(shù)：熱測(cè)試設(shè)備T3Ster的熱瞬態(tài)測(cè)試技術(shù)及結(jié)構(gòu)函數(shù)分析方法。
測(cè)試范圍廣：可測(cè)試MOSFET, IGBT以及二極管等器件。
簡(jiǎn)單易用的觸摸屏界面：Power Tester 在功率循環(huán)測(cè)試期間能夠記錄包括電流、電壓、溫度、結(jié)構(gòu)函數(shù)等信息在內(nèi)的參數(shù)。
多種功率循環(huán)模式：Power Tester 包含了恒定時(shí)間Ton和Toff，恒定電流，恒定殼溫變化ΔTC，恒定結(jié)溫變化ΔTJ以及恒定功率變化ΔP等模式。
實(shí)時(shí)結(jié)構(gòu)函數(shù)診斷：方便用戶快速地獲得循環(huán)過(guò)程中的缺陷，對(duì)應(yīng)的循環(huán)數(shù)以及失效原因等。
無(wú)需功率循環(huán)后的實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)及破壞性失效分析：無(wú)需再使用傳統(tǒng)的x射線、超聲波或者其他的破壞性方法來(lái)進(jìn)行失效分析。
測(cè)試操作簡(jiǎn)便：用戶只需根據(jù)系統(tǒng)提示將器件對(duì)應(yīng)管腳連接到設(shè)備，無(wú)需了解復(fù)雜的測(cè)試電路。
幫助用戶設(shè)計(jì)更加可靠的電子封裝產(chǎn)品：Power Tester提供的特性化測(cè)試數(shù)據(jù)，可以直接導(dǎo)出給熱仿真軟件FloTHERM，利用實(shí)測(cè)結(jié)果來(lái)實(shí)現(xiàn)模型自動(dòng)校準(zhǔn)功能，幫助用戶得到精確的，符合實(shí)際的仿真模型。
預(yù)估器件壽命：幫助用戶獲得功率電子器件在真實(shí)應(yīng)用條件下的使用壽命。
二、產(chǎn)品信息
PWT 1500A/1800A/3600A PWT 600A PWT2400A
1、產(chǎn)品型號(hào)
型號(hào)
1500A
3C 12C
PWT 1800A 12C 12V
PWT 3600A 12C 6V
PWT 600A 16C 48V
2400A 16C12V
加熱通道數(shù) 3 3 3 2 4
輸出電流
500A * 3
600A *3
1200A *3
300A*2
600A*4
輸出電壓
8V
12V
6V
48V
12V
測(cè)試通道數(shù)
3/12(3*4)
12(3*4)
12(3*4) 16(2*8) 16(4*4)
測(cè)試電流源
